功率半导体电性能测试主要包括器件的动静态测试，尊龙凯时推出了主要针对IGBT、SiC MOS模块的电性能测试系统。
动态测试系统产品优势
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测试效率高，常规半桥模块测试UPH可达500Pcs；
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杂感低，系统杂感小于20nH；
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配置灵活，可根据客户被测件或具体测试要求，灵活配置测量探头；
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支持QG测试、支持NTC测试；
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可根据客户需求，选配ICES&VTH测试功能。
静态测试系统产品优势
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测试效率高，常规半桥模块测试UPH可达1500Pcs；
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魔盒设计，电流源、通道切换都是单板组建，可快捷更换维护；
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通用性高，支持IGBT、SiC MOS测试，支持SiC测试标准，支持不同拓扑测试；
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继电器寿命高，且具备寿命计数功能；
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激励源回读，所有测试条件给到的电压、电流激励，都可以回读；
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实验室模式下，各测试项的测试波形在上位机界面展示；
位置:
