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功率半导体电性能测试主要包括器件的动静态测试，尊龙凯时推出了主要针对IGBT、SiC MOS模块的电性能测试系统。

动态测试系统产品优势

• 测试效率高，常规半桥模块测试UPH可达500Pcs；
• 杂感低，系统杂感小于20nH；
• 配置灵活，可根据客户被测件或具体测试要求，灵活配置测量探头；
• 支持QG测试、支持NTC测试；
• 可根据客户需求，选配ICES&VTH测试功能。

静态测试系统产品优势

• 测试效率高，常规半桥模块测试UPH可达1500Pcs；
• 魔盒设计，电流源、通道切换都是单板组建，可快捷更换维护；
• 通用性高，支持IGBT、SiC MOS测试，支持SiC测试标准，支持不同拓扑测试；
• 继电器寿命高，且具备寿命计数功能；
• 激励源回读，所有测试条件给到的电压、电流激励，都可以回读；
• 实验室模式下，各测试项的测试波形在上位机界面展示；

MX300A系列自动化测试产线由上料机、绝缘测试、预热、高温静态测试、高温动态测试、冷却及NG下料、常温动态测试、常温静态测试、拱度、全尺寸、NG下料、下料机等模块组成，采用公司自主研发的测试系统与自动化相结合，为IGBT自动化产线测试提供一个精准、稳定的测试平台，用于产线全方面检验IGBT的参数特性。

产品优势

• 模块化设计，测试工艺流程灵活搭配；
• 兼容工业、车规以及SiC模块的自动化测试；
• 自动化测试产能高；
• 自动化系统自主研发，以保障其与测试系统良好的匹配性；
• 自动化外观设计风格和搭配的测试系统一致，简洁美观；

功率半导体可靠性测试主要用于评估器件的寿命，模拟产品在长时间使用或特定环境条件下性能的变化。特别针对器件的工艺可靠性以及芯片性能的可靠性进行实验。

功率器件热特性测试产品优势

• 测试电流等级到3600A，兼容SiC MOS模块测试；
• 通道数提升至18个，可支持更多器件同时测试；
• 具备瞬态、稳态热阻的测试功能；
• 支持分钟级和秒级功率循环测试；
• 三个实验通道，通道流量独立控制。

高温电压偏置测试产品优势

• 兼容Si/SiC/GaN 材料的IGBT、MOSFET、DIODE等功率器件测试，器件形式兼容单管、模块等不同封装。
• 测试精度高，电流的量程根据实际所测的漏电流自动选择分档，以保证测试精度；
• 实时监控测试温度、数据，试验每通道电压/工位漏电流检测/试验箱温度检测并描绘出完整变化曲线；
• 独立高压击穿保护，每工位串联保护器件，防止器件失效造成的测试板损坏；

• 测试类型全覆盖，可根据需求配置测试功能，实现芯片的外观检测、高常温动静态、RG/CG、雪崩、短路等；
• 高压大电流测试范围，覆盖3000V/1000A以内的测试规格；
• 定位精度高，通过伺服传动、视觉定位等方式，有效提升晶圆或芯片的定位精度；
• 高产能，更具测试功能，配备多site测试功能；
• 可进行高温测试，同时进行惰性气体保护，防止打火和氧化